东升国际

  • 台式TWE测试仪
  • 立式TWE测试仪

TWE 透射波前差测试机

TWE测量仪器使用双光路测量模式,具备高精度、高动态范围和大像差直接测量能力,可快速切换光路类型,对各类光学元件(如透镜、滤光片、平面玻璃等)的透射波前质量进行精确表征与质量控制。

准直光穿过被测光学元件后,其理想的平面波前会因元件内部及表面的不均匀性而产生畸变。TWE测量机将这种波前畸变转换为可检测的光强分布图像,通过专用算法实时重建出完整的波前相位图,从而精确量化出波前误差的PV值、RMS值、PSF、MTF等关键参数。

  • 400-1100nm
    波长范围
  • 5.02×3.75mm
    孔径尺寸
  • <2 nm RMS
    测试分辨率(相位)
vs
加入对比
  • 台式TWE测试仪
  • 产品优势

  • 产品参数

  • 应用解决方案

产品优势

  • 高精度波前测量

    支持10nm RMS解析度,精准捕捉光学元件的波前信息与成像质量

  • 多功能测试平台

    兼容平面与透镜类产品,支持快速更换Holder设计,适配不同规格产品测量需求

  • 非接触式快速检测

    采用高稳定性光学系统,采集速度快,结果重复性高

  • 定制化波长与输出

    支持多波段切换测试,并一键输出定制报告图表

  • 集成紧凑高效

    模块化设计节省空间,搭配可视化软件界面,操作更直观高效

产品参数

系列型号
  • 台式TWE测试仪
    vs
  • 波长范围
  • 孔径尺寸
  • 空间分辨率
  • 相位分辨率
  • 台间差
  • 绝对精度
  • 采集速度
  • 实时处理速度
  • 电路规格
  • 外观尺寸
  • 重量
  • 通讯接口
  • 气压
  • 温度
  • 湿度
  • 洁净度
  • 台式TWE测试仪

    • 波长范围
      400 ~ 1100 nm
    • 孔径尺寸
      5.02 mm × 3.75 mm
    • 空间分辨率
      27.6 μm(依扩束镜而定)
    • 相位分辨率
      <2 nm RMS(依扩束镜而定)
    • 台间差
      PV: 15-20 nm;RMS: 0-4 nm
    • 绝对精度
      10 nm RMS
    • 采集速度
      60 FPS
    • 实时处理速度
      10 FPS(全分辨率)
    • 电路规格
      电源:AC 220 V,50 Hz
      功率:100 W
      额定电流:0.5 A(Max 1A)
    • 外观尺寸
      430 mm × 430 mm × 884.5 mm
    • 重量
      55 kg
    • 通讯接口
      以太网口,USB 3.0
    • 气压
      0.5-0.7 Mpa,Φ10 mm
    • 温度
      15-35°C
    • 湿度
      40 ~ 65%
    • 洁净度
      100/1000/10000 级

请填写您的信息

立即获取相关资源
  • 我已仔细阅读并同意隐私声明
  • 提交